採用情報
English
メニュー
製品情報
はじめての方へ(装置選定ガイド)
製品デモ・サンプル測定
企業情報
お問合せ
メニューを閉じる
シリコンウエハ、半導体薄膜、
フラットパネル薄膜や太陽電池の抵抗率/
シート抵抗測定
ナプソン株式会社
ピックアップ製品
DUORES
EC-80P
RT70V/RG-7C
Cresbox
NC-80MAP
NC-700
RS-1300
製品一覧
初めての方へ(装置選定ガイド )
製品分類情報
>
一覧
接触式 抵抗測定
接触式の抵抗測定システムです。針状のプローブヘッドをサンプルに接触させ測定実施します。測定対応範囲が広く、様々なサンプルタイプに使用できます。
非接触式 抵抗測定
非接触式の抵抗測定システムです。上下に配置されたプローブヘッド間にサンプルを挿入し測定実施します(*渦電流法)。サンプルにダメージを与えずに測定可能です。
フラットネス・厚さ測定
非接触式のフラットネス・厚さ測定システムです。ウエハサンプルのフラットネス(TTV, BOW, WARP)、厚さを測定します。
>
製品分類情報一覧へ
技術紹介
ナプソンの抵抗測定は、接触式と非接触式の2種類。
それぞれの測定方式についてご紹介致します。
海外ネットワーク
ナプソンの海外ネットワークの紹介。
海外工場への納品設置サポートも万全です。
アフターサービス
納入後も弊社製品を常に安定してご使用頂くため、
アフターサービスを充実させております。
トピックス・お知らせ
>
一覧
2021.12.28
本年も有難うございました
2021.11.15
SEMICON JAPAN 2021 に出展致します。
2021.04.28
GW期間中の弊社対応について
2020.12.25
今年も有難うございました
2020.07.27
コロナ禍における弊社就業体制について
お問い合わせはお電話でも
03[3636]0286
お問い合わせフォームへ
無償 デモ・サンプル測定
測定可能?と思ったらご相談ください