SRS-2010
2探針法の拡がり抵抗測定器
製品の特長・機能
試料の深さ方向の抵抗率分布、エピタキシャル層の厚さ、PN接合の深さ、キャリア濃度分布を求めることが可能
- 数mm角の領域から数百μm程度のパターン領域の分析が可能
- 測定した拡がり抵抗から、較正曲線を用いて抵抗率を算出
測定仕様
測定対象
- 半導体
- 太陽電池材料関連(シリコン、ポリシリコン、SiCなど)
対象のサイズ
*お問い合わせください。
測定レンジ
1~10E+9(Ω)[拡がり抵抗]
印加電圧:10(mV) 検出電流:10(pA)~10(mA)
製品情報
- 接触式 抵抗率、シート抵抗測定器
- 非接触式 抵抗率、シート抵抗測定器
- ウエハーフラットネス測定システム
- ライフタイム測定器
- 2探針法の拡がり抵抗測定器
- PN判定器
- 4探針プローブヘッド
- 抵抗率基準ウエハー
電気抵抗測定の測定原理の資料ダウンロード
電気抵抗の測定方法・測定原理にをまとめた資料を作成しました。
『電気抵抗測定の測定方法を詳しく知りたい』、『測定原理を理解したいけど既存文献だと分かりにくい』などのご要望がある場合には、ぜひご参照ください。